New scan compression approach to reduce the test data volume

نویسندگان
چکیده

برای دانلود باید عضویت طلایی داشته باشید

برای دانلود متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

A unified approach to reduce SOC test data volume, scan power and testing time

We present a test resource partitioning (TRP) technique that simultaneously reduces test data volume, test application time, and scan power. The proposed approach is based on the use of alternating run-length codes for test data compression. We present a formal analysis of the amount of data compression obtained using alternating run-length codes. We show that a careful mapping of the don’t-car...

متن کامل

a new approach to credibility premium for zero-inflated poisson models for panel data

هدف اصلی از این تحقیق به دست آوردن و مقایسه حق بیمه باورمندی در مدل های شمارشی گزارش نشده برای داده های طولی می باشد. در این تحقیق حق بیمه های پبش گویی بر اساس توابع ضرر مربع خطا و نمایی محاسبه شده و با هم مقایسه می شود. تمایل به گرفتن پاداش و جایزه یکی از دلایل مهم برای گزارش ندادن تصادفات می باشد و افراد برای استفاده از تخفیف اغلب از گزارش تصادفات با هزینه پائین خودداری می کنند، در این تحقیق ...

15 صفحه اول

A New Dft Architecture to Reduce Test Data Volume and Test Application Time

Article history: Received: 28.11.2014. Received in revised form: 5.3.2015. Accepted: 7.3.2015. This paper proposes a new DFT Architecture that contains three test scan modes. The test data could be interval broadcast to scan chains whenever the data in corresponding locations are compatible. Compared with the conventional broadcast scan architecture, the proposed architecture achieves better co...

متن کامل

Selective Scan Slice Grouping Technique for Efficient Test Data Compression

This paper presents a selective scan slice grouping technique for test data compression. In conventional selective encoding methods, the existence of a conflict bit contributes to large encoding data. However, many conflict bits are efficiently removed using the scan slice grouping technique, which leads to a dramatic improvement of encoding efficiency. Experiments performed with large ITC’99 b...

متن کامل

Two-dimensional test data compression for scan-based deterministic BIST

In this paper a novel architecture for scan-based mixed mode BIST is presented. To reduce the storage requirements for the deterministic patterns it relies on a two-dimensional compression scheme, which combines the advantages of known vertical and horizontal compression techniques. To reduce both the number of patterns to be stored and the number of bits to be stored for each pattern, determin...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: IET Computers & Digital Techniques

سال: 2021

ISSN: 1751-8601,1751-861X

DOI: 10.1049/cdt2.12020